BRUKER納米紅外光譜與成像系統nanolR3-S

BRUKER納米紅外光譜與成像系統nanolR3-S簡介 基于原子力顯微鏡（AFM）的納米紅外光譜（AFM-IR）是一種將AFM的高空間分辨率與紅外光譜的化學分析能力相結 合的新技術。該技術通過使用原子力顯微鏡的針尖來局部檢測樣品因紅外輻射的局部吸收而產生的熱膨脹信號，突 破了傳統紅外顯微光譜由于光衍射而引起的空間分辨率限制（空間分辨率為通常小于λ/2），可實現優于10nm空間分 辨，單分子層靈敏度的納米紅外光譜和紅外成像。

BRUKER納米紅外光譜與成像系統nanolR3-S中國代理商功能應用介紹

布魯克的納米紅外光譜與成像系統配置有全面的納米紅外光譜和成像功能，還有多樣化的AFM相關功能，真正實現 納米化學、力學電學、熱學等多維度定量測試。這些主要功能模式包括：共振增強AFM-IR、輕敲AFM-IR、表面靈敏AFMIR、共振增強力陣列AFM-IR、其他AFM相關功能（見AFM部分介紹）等。

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